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L'unité insertion de défauts (FIU) PXI-2512 est conçue pour les applications hardware-in-the-loop (HIL) et les tests de fiabilité électroniques.  Chaque module dispose d'un ensemble de canaux de traversée que vous pouvez ouvrir ou court-circuiter vers un ou plusieurs bus de défaut. Vous pouvez utiliser cette architecture pour simuler des connexions ouvertes ou interrompues ainsi que des courts-circuits entre les broches, des courts-circuits aux tensions de batterie et des courts-circuits à la terre sur une base par canal Lorsqu'il est contrôlé avec le module LabVIEW Real-Time, le PXI-2512 est idéal pour valider l'intégrité des systèmes de contrôle, y compris les unités de contrôle du moteur (ECU) et les commandes numériques du moteur (FADEC).